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NanoSystem NV-1800 3D輪廓儀
更新時間:2019-03-24
產品型號:
描述:NanoSystem NV-1800 3D輪廓儀屬於緊湊式機型,但仍具有很高的測試性能。簡單的操作性和優秀的重複性使得它在研發和分析不良產品方麵發揮著重要作用。

NanoSystem NV-1800 3D輪廓儀的詳細資料:

NanoSystem NV-1800 3D輪廓儀是一種手動的非接觸式三維輪廓儀,適用於任何表麵。其設計簡單,忠實於基本功能。Nanosystem利用自己的patented算法和白光幹涉技術創造H/WS/W。Patented的WSI/PSI技術測量各種表麵材料和參數,包括表麵紋理、形狀、台階高度和更高(0.1nm-垂直和0.2 um-橫向分辨率)的二維和三維剖麵。

白光掃描幹涉技術(WSI)是一種測量高分辨率(0.1nm)、高速測量表麵積、高度和體積的技術。在不破壞任何破壞的情況下,納米係統的WSI技術(白光掃描幹涉法)能在幾秒鍾內從0.1nm10000μm範圍內測量樣品,並提供真實的樣品三維形狀。此外,重複性小於0.1%(1σ),無論放大,z軸分辨率為0.1nm。基於納米係統技術的精度(高精度、重複性和重複性),該產品可廣泛應用於半導體、印刷電路板、顯示、工程部件、化工材料、光學部件、生物、R&D等領域。

NanoSystem NV-1800 3D輪廓儀提供高分辨率(0.1nm)10萬倍放大率(10 Mm)和高清晰度圖像,在0.1nm10000 μm範圍內,在2秒內測量樣品,提供真實的2D/3D樣品形貌,無需準備(隻需將樣品直接放在樣品台上),測量任意尺寸和幾乎任何材料的樣品(反射率為1%)

 

NV-1800的優點

·       優良的測量精度

·       無需振動台麵

·       抗振動的緊湊設計

·       快速測量速度

·       友好的測量界麵

·       全手動操作

·       2D3D多功能性能

 

主要功能

·       3D 形貌測量- 粗糙度 (ISO 25178) 和平整度 (選項)

·       高度,深度,寬度(從亞納米到10)·

·       麵積信息(體積,麵積)-2D, 3D Measurement

 

產品規格:

·       幹涉物鏡:單透鏡可選

·       掃描範圍:0-180um270um可選)

·       垂直分辨率:WSI:﹤0.5nm PSI :﹤0.1nm

·       傾斜台:±3°

·       Z軸行程:30mm(手動)

·       工作台麵:50X50mm(手動)

 

應用領域:

Nano View係列為LCD(液晶顯示器)、IC Package(芯片封裝)、Substrate(基板)、Build-up PCB(積層板)、MEMS(微機電係統),Engineering Surfaces(工程表麵)等等領域提供納米級別精度的量測。

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