NanosystemNV-24003D輪廓儀是經濟型機型，通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表麵形貌進行高進度和高速測量。利用物鏡轉台可方便的進行放大倍數的轉換。使用拚接功能可分析寬廣的表麵。

NanoSystemNV-18003D輪廓儀屬於緊湊式機型，但仍具有很高的測試性能。簡單的操作性和優秀的重複性使得它在研發和分析不良產品方麵發揮著重要作用。

NanosystemNVF-2700非接觸式3D輪廓儀，通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表麵形貌進行高進度和高速測量。利用物鏡轉台可方便的進行放大倍數的轉換。使用拚接功能可分析寬廣的表麵。

NanosystemNV-2700非接觸式3D輪廓儀，通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表麵形貌進行高進度和高速測量。利用物鏡轉台可方便的進行放大倍數的轉換。使用拚接功能可分析寬廣的表麵。

NANOSYSTEMNVM-6000P測量係統為LCD、ICPackage、Substrate、Build-upPCB、MEMS，EngineeringSurfaces等領域提供納米級別精度的量測，NVM-6000P是專用型設備，用於基板表麵形貌的測量。基板上的ViaHole，Pad形狀，pattern形貌和表麵形貌等11個項目可以進行自動測量，高速測量下仍具有優秀的重複性和準確性。